簡要概述：
Ø ST-21型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
Ø 該儀器以大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。
性能特點：
Ø 采用大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定，低功耗；
Ø 以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；
Ø 采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；
Ø 體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
Ø 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
Ø 探頭帶抗靜電模塊
技術指標：
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測量范圍
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按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：
1. 方塊電阻 1.00～199.99Ω；
2. 方塊電阻 10.0～1999.9Ω；
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恒流源
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測量過程誤差：≤±0.8%
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模數轉換器
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量程：0～199.99mv；
分辨率：10μv；
方式：LCD大屏幕顯示；極性，超量程均自動顯示；小數點同步顯示；
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測量不確定度
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在整個量程范圍內，測量不確定度≤5%
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四探針探頭規格
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間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
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電源
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9V疊層電池1節
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ST-21方塊電阻測試儀可選配HP系列四探針探頭的型號及規格：
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型號
(Model)
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曲率半徑
(Radius)
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壓力
(loads)
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探針間距
(spacing)
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探針排列
(Arrangement)
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HP-501
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0.5mm
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100g
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3.8mm
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直線
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HP-502
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0.75mm
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100g
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3.8mm
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直線
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HP-503
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0.1mm
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150g
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1mm
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直線
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HP-504
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0.5mm
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100g
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1.59mm
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直線
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ST-21方塊電阻測試儀可選配SP-601型方型四探針探頭的型號及規格：
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型號
(Model)
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曲率半徑
(Radius)
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壓力
(loads)
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探針間距
(spacing)
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探針排列
(Arrangement)
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SP-601
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0.5mm
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100g
|
1.59mm
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方形
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