KDY-1型四探针电阻率测试仪
性能特点：
ª 配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更**。
ª 数字电压表量程：0—199.99mV 灵敏度：10μV 输入阻抗：1000ΜΩ
l 基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)
ª 可测电阻率范围：10—4 —1.9×104Ω·cm。
u 可测方块电阻范围：10—3 —1.9×105Ω/□。
ª 设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。
ª 流经硅片的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度＜3%。
ª 电流量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
ª 仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的**系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。
ª 可加配电脑，使用专用软件进行数据采集,实现自动换向测量、存储,求平均值，*大值、*小值、*大百分变化率、平均百分变化率等内容。
ª 可配KDDJ-2电动测试架，自动上下运行，使测量更方便快捷。
ª 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高（国家知识产权局已于2005.02.02授予**权，**号：ZL03274755.1）。
STY-2R型导电型号测试仪是严格按照国际标准SEMI MF42-1105及国家标准GB/T1550中的全类型整流法设计生产。
由于将三根测试探针做成测量探头，每根探针均有独立伸缩和加压机构，因此样品上无需制备电极。
探针与半导体材料上产生的整流电势差经低噪声、低飘移集成运算放大器放大后，用液晶显示器件直接指示型号。
性能指标：
ª 可准确判别硅材料导电型号的电阻率范围：0.05-1000Ω·cm。
ª 实际可测量硅材料电阻率范围：10-2～104Ω·cm。
ª 可测线度大于5mm的任意形状的硅块和硅片，样品长度、直径不受限制。
ª 显示方式：由显示N和P字样的液晶器件直观指示半导体材料型号。
ª 探针采用耐磨的碳化钨硬质合金，直径0.8mm，每根针有独立的加压机构，压力可在50～500克（单针）范围内根据用户需要进行调整。
ª 外型尺寸：210 100 230（宽高深，单位mm）。
ª 重量：约3kg。
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