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LCR数字电桥使用问答|苏州仪器网

LCR数字电桥使用问答


LCR 数字电桥使用问答
1. 能说明一下数字电桥部份符号标识的释义吗?
答:L:电感;C:电容;R:电阻;
B:电纳;D:损耗;G:电导;
Q:品质因数; X:电抗;Z:阻抗;θ:相位角;
DC:直流;AC:交流;
FREQ:频率;STORE:存储;RECAL:调用仪器设置;
AUTO:自动;MODE:模式;
SER:等效串联;PAR:等效并联。
2. 不同的测试频率对元器件测试有影响吗?
答:有。
3. 测试电压不同对元器件测试有影响吗?
答:有。
4. 对于一个已知的电容,使用者应该选用什么样的测试条件?
答:(1)小于 100pF 电容用 1MHz(如果数字电桥具备这个档位的话)频率测量;
2)中等容量,如 1000pF-10uF 电容,1kHz10kHz100kHz 应该选择选哪
一个档位,国家标准,测试中等电容的测试频率标准是 1kHz。电解类,如铝电
解,钽电解等用 100Hz 120Hz
3)从电平的角度来说,大部分电容对测试电平不敏感,因此,不同电平测
试变化不大,但有些介电常数大的电容对测试电平非常敏感,故应根据实际需
要仔细选择测试电平。一些入门级的数字电桥没有该选项,只能使用默认测试
电平进行测试。
LCR数字电桥使用问答
5. 测试信号电平是什么意思?
答:施加于被测元器件上的电平是十分重要的。实际施加于被测件上的电平(电
压或电流)与仪器信号源阻抗有关,虽然仪器电平相同,若信号源阻抗不同,
实际施加于被测件上的电平就不同。
6. 数字电桥测量的准确度如何?
答:测量准确度是反映仪器性能的主要指标之一。确切了解所需仪器的准确度
是准确评价元器件优劣的关键。一般来讲,仪器本身的准确度应比测量元器件
的技术指标要求高。通常,仪器设备或其宣传资料给出的参数是在一定条件下
的最高准确度,也就是所谓的理论值。
   实际上,无论是数字电桥还是其它设备,参数标称值与实际值均存在或多
或少的差异,这是使用者应该清楚并注意的。要想了解被测量元器件在测量频
率下呈现的阻抗、以及对应测量条件下,测试仪器的准确度是否满足测量要求,
那么,充分了解仪器的测量准确度是极为重要的。
   当然,测试准确度与所给定的测试条件密切相关,这一点,同样不能忽视。
须知,即使是相同基本准确度的仪器,其在不同量值被测元器件和不同频率下
其准确度是有很大区别的。
7. 什么是损耗?品质因数 Q ?
答:DQ 两者互为倒数,其计算方法为被测元器件的有功功率 PR(电阻器耗能)
与无功功率 PC(电容器储能)或 PL(电感器储能)的比值,对串联和并联等效
电路使用下式计算:=Rs/|Xs|D=|Xp|/RpD Q 的值与等效方式无关。
8. 怎样选择串联和并联测试参数?
答:(1)电容测量,可以两个不同的测试频率下损耗因子的变化性质来决定,
若频率升高而损耗增加,则应选用串联等效电路测试模试;若频率升高而损耗
减小,则应选用并联等效电路测试模试。
   2)对于电感来说,情况正好与电容相反。实际中,器件的 D 不可能与频
率完全成正比关系,其可能有并联成分,也可能有串联成分,应看何种成分占
主导地位。
   3)根据元器件的最终使用情况来判定。如用于信号耦合电容,则最好选
择串联方式,旁路或并联谐振则使用并联等效电路。
   4)约定俗成的习惯是,低阻抗元件用串联,从数值上说阻抗小于 100
姆用串联,大于 10 千欧用并联,阻抗大于 100 欧姆-10 千欧的,根据实际情况
(主要是指元器件的使用场合及使用要求)选择。
9. 什么叫等效串联电阻 Rs?等效并联电阻 Rp?
答:任何一个被测元器件都可以等效为一个串联电路或并联电路,串联电阻 Rs
为串联等效电路中的电阻部分,Rs 也叫 ESR,并联电阻 Rp 为并联等效电路中的
电阻部分,Rp 也叫 EPR
10. 怎样选择测试速度?
答:一般来说,测试速度是以牺牲测试精度为代价的。速度越快,精度越差,
读数稳定性差,有效位数变少。如果要求测试精度,一般选择慢速,要考虑测
试速度和测试精度就选择中速。通常情况下,大多选择中速档位进行测试。
11. 仪器为什么要进行清零?
答:(1)由于仪器本身的漂移,会叠加一些杂散成份,如接触电阻、电感、并
联电容等,不清零就会有误差。
   2)短路清零对小阻抗器件更为有效,开路清零对高阻抗器件更有效。
12. 有些 LCR 数字电桥选配 GPIB 接口有什么作用?
答:这种功能大多出现在稍高档的电桥上。主要是使设备通过 GPIB 接口和电脑
相连,编写相应的软件,可以实现用电脑控制仪器,进行自动测量。对于一般
应用而言,GPIB 接口功能可不必考虑。
13. 什么是负载校准,负载校准应注意哪些问题?
答:负载校准是一种的高级的仪器校准方法,可以使仪器在高于仪器原有准确
度的基础上测量元器件,主要用于下面两种情况:
   1)当有更准确的元器件并需对同规格元器件进行更高准确度的测量。
   2)统一现场所有 LCR 数字电桥的测试数据。
14. 扫频清零方式和点频清零方式有何区别?
答:(1)扫频一般针对实际测试频率点比较多的被测元器件,点频清零一般针
对只要一个频点的被测元器件;
   2)扫频清零耗时较长。如同惠 TH2816A 电桥,无论短路清零,还是开路
清零,均采用的是扫频清零方式。
15. 测量的显示范围和精度范围有何区别?
答:测量的显示范围一般大于测试设备所标识的精度范围。
16. 输出阻抗不同对测试结果有什么影响?为什么有的仪器有 30Ω 100Ω
的内阻选择?
答:(1)仪器输出阻抗不同,会导致被测元器件上施加的测试信号不同,最终
会导致显示参数的差异和不同。
   2)测试时,测试信号其实是被测件与仪器内阻输出阻抗串联在一起,会
对信号产生分压作用。因此,低阻抗测试实际加到被测器件上的电平小于设定
电平。30Ω兼容较老款式电桥,100Ω可与进口(如 Agilent)仪器设备匹配。
17. 有些电桥的 P1\P2\P3 有何具体意义?
答:仪器的 P1\P2\P3 用于元器件的一级品、二级品、三级品的等级分选。通常
情况下,一级品的百分比极限小于二级品极限,二级品的百分比极限小于三级
品极限。
18. 同一电感在不同厂家的 LCR 仪器上用相同测试条件,为什么测试数据会
有很大差别?
答:(1)绝大多数电感都带有铁芯磁芯,而带有铁芯磁芯的电感对其施加的磁
场非常敏感,磁场与测试信号电流成正比,因此相同电平若内阻不同,电流就
会不一样,则结果有很大差别。这是客户电感测试时遇到的普遍问题。
   2)判定仪器测试电感的一致性原则,应该是施加与被测件上的电流要一
致。但有一个特例需要注意,就是空心电感与磁场不在此例。
LCR数字电桥使用问答
19. 为什么有时器件会显示“-”?
: 1)过度清零或不适当的清零。(2)受限于仪器的精准度。
20. 增加测试线的长度对测试有没有影响?
答:有。一般 LCR 数字电桥出厂时,采用 1 米长的线进行校准,如超过 1 米,
则需要重新校准。
21. 仪器的自动和保持有什么实际作用?
答:仪器的自动档位,一般用于未知大小的元器件的测试;而保持档位,一般
用于大小已经确定的元器件测试;保持功能可以提高仪器的测试效率,还可以
起到延长仪器内部继电器的使用寿命的作用。
22. 电桥的串行软件有何功能?
答:一些电桥设置有串行接口,供串行软件和电脑连接使用,以便实现统计分
析或者自动测试功能。
23. 仪器可以测贴片元器件吗?
答:当然可以,只要配置(大多是选配)专用 SMD 测试夹具就可以测试贴片元
器件了,SMD 测试夹具分为两端口夹具和四端口夹具。
24. 直流偏置电流源在有些频率下为何无法清零?
答:交流输出阻抗频响不一致,在某些频率点可能产生谐振,因此,无法完全
清零。
25. 测试信号电平相关性是什么意思?
答:所有元器件均存在信号电平的相关性。即在规定测试频率下,元器件数值
与信号电平的大小有关。有些元器件对电平的变化不敏感,而有些元器件对信
号电平具有极强的敏感性,如高 K(高介电常数)值的陶瓷电容,高导磁率的电
感器等。因此,对此类器件规定其测量信号电平(电压或电流)是非常重要的。
26. 测试时,频率设置越高越准确吗?
答:不是。测试时,测试频率高低选择,取决于被测元器件本身,包括元器件
的使用场合。
 
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