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烧机测试系统

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产品名称: 烧机测试系统
产品型号: 58601 说明/参数
产品展商:其它品牌
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简单介绍

58601 烧机测试系统是ㄧ提供高密度高精度多通道SMU,温度控制与可符合不同光电半导体。可供发光二极体,雷射半导体,光电侦测器与其他半导体使用。

烧机测试系统的详细介绍

主要特色:

Ø         适用于烧机与老化测试

Ø         *多达800通道同时测试

Ø         *高达40 安培电流输出

Ø         *高达150 温度控制

Ø         操作员利用Carrier放置待测物

Ø         Change Kit 设计供测试种类不同待测物

 

 

技术规格:

烧机-可靠度&老化测试 
58601是ㄧ提供高密度高精度多通道SMU,温度控制与可符合不同光电半导体。可供发光二极体,雷射半导体,光电侦测器与其他半导体使用。 每个模组*高可测试80组独立SMU,可提供待测物电流与偏压并量测之。

电流源 
每片独立的电流电压卡SMU可提供五种不同的电流等级,由5Amp 20 40Amp. 独立的电压量测可供高串联数的待测物测试于高电压等级. 多组的电流源也可藉由并联形式提高电流的输出能力。

高弹性化设计 

使Conversion Kit由半导体转换到光电半导体使用。应用Conversion Kit58601烧机测试可以拥有以下的优点:

  • 高密度通道
  • 高电流输出
  • 光电流监控
  • 监控量测光电半导体
  • 暗电流量测
  • 提供偏压
  • 独立电压量测
  • Bypass of Failing Devices
  • 符合各种雷射光电半导体

高效率运作

  • 提供高温控制,降低老化时间与较少的通道,同时可降低成本,提供快速结果
  • 高密度设计降低使用空间,优于其他设计
  • 通过制造商进行批量测试,Carriers可用于烧机测试与特性测试,软体可主动追踪资料于烧机与特性测试
  • 在利用Change kit 的设计,在相同基础设备下可快速切换供不同种待测物使用,待测物降低成本
  • 精细的probing 方式可提供次系统与高单价包装待测物
  • 热插拔电源模组降低故障机率于MTBF/MTTR测试

 

 

选购附件:

Model

Description

58601

光电激光半导体烧机测试系统

 

 

主要销售:LCR测试仪,,信号发生器,数字存储示波器,绝缘电阻测试仪扭力扳手扭矩扳手耐压测试仪直流电阻测试仪数字电桥等等测量仪器,测试仪器,工具等。(点击关键词可进入相关产品目录)扭力测试仪瓶盖扭力测试仪数字电桥,扭力扳手

咨询专线:

在订货前*好还是致电我们,以确定货期和数量。

咨询电话:021-530842187 -111  

专线:18616355232 / 18602120232 包小姐/景小姐

 

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